1947年(点接触晶体管实验) / 美洲

点接触晶体管展示半导体放大信号的能力

巴丁和布拉顿在贝尔实验室用锗和金属触点实现信号放大,为半导体电子器件打开新的研究方向。

透明支架上带细导线与金属触点的晶体管复制品
后世复原模型弗洛里安·舍费尔2015年拍摄的海因茨·尼克斯多夫博物馆论坛展品,为早期点接触晶体管复制品;不是1947年原件或当时照片。弗洛里安·舍费尔(摄影) · 海因茨·尼克斯多夫博物馆论坛 · CC BY-SA 4.0 图片来源与授权

科学史故事

1947年12月,巴丁和布拉顿在贝尔实验室固体物理研究组中制成能放大信号的点接触器件,并向实验室管理者演示。肖克利参与研究组工作,随后发展结型晶体管方案;公开发布发生在1948年。晶体管为电子设备缩小和降低功耗创造了条件,但1947年的实验器件尚不是集成电路,也不是今天芯片中的微型晶体管。

联系与背景

从半导体物理到计算机硬件,需要材料、制造和电路设计的共同推进。此后集成电路把更多元件与连接组织到同一片材料上。

年代与日期精度

1947年(点接触晶体管实验) 明确节点

按资料明确记载的年、月或日定位;未详的月日不作推定。

地图代表点

新泽西州默里希尔

标记贝尔实验室默里希尔研究地点;后续器件改进与工业生产发生于更多地区。

代表点坐标 · 40.6832°, -74.4°

代表点可指一份手稿的收藏地、实验室或观测地点,不表示研究只在此发生,也不把共同发现单独归于某一国家。

资料依据

  • 中国科学院大学:半导体物理与应用——无尽的前沿(讲座记录)
  • 《物理》:微电子技术的先导——纪念晶体管诞生七十周年

资料以书目标题展示,不提供外部跳转。参考资料可能支持个别事实或相关背景,列出来源并不等于每一句解释已经逐句核实。

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